MarSurf | Powierzchniowe pomiary 3D

MarSurf CM plus explorer 100

Nr art. 6350027

Nowa seria MarSurf CM explorer to kompaktowe mikroskopy konfokalne, za których pomocą można mierzyć i analizować powierzchnie w trzech wymiarach – bezdotykowo, niezależnie od materiału i szybko.

MarSurf CM <i>plus explorer</i> 100<br/>
Elastyczne, uniwersalne rozwiązanie pomiarowe

Wydajne urządzenia pomiarowe MarSurf CM umożliwiają niezawodne pomiary na wszystkich powierzchniach, a użytkownikom zapewniają wysoką rozdzielczość oraz maksymalną trwałość, akceptację zboczy i dynamikę.
Ponadto nowoczesne narzędzia umożliwiają niezwykle szybkie pomiary (do 4x szybsze niż dotychczas) z dużą gęstością punktów pomiarowych, dostarczające wysokiej jakości, niefiltrowanych danych surowych.
Wybór wariantu CM explorer lub CM plus explorer do najwyższych wymagań pozwala dopasować system do Twoich zastosowań i uzyskać do 2x lepszą powtarzalność i niepewność pomiaru.

Typowe zadania pomiarowe
  • Pomiary chropowatości według
    ISO 21920 / 4287 i ISO 13565 / ISO 25178
  • Pomiary topograficzne (m.in. objętość, zużycie, tribologia)
  • Kontur i kształt (2D, 3D)
  • Analiza porów, cząsteczek
  • Wykrywanie defektów
  • ...
Maksymalna jakość danych

Jedno z naszych najważniejszych kryteriów, czyli wyśmienita precyzja, dokładność, powtarzalność, odtwarzalność i dokumentacja pozwalająca na śledzenie i kontrolę. Naszym największym osiągnięciem dla klientów jest ilościowa wartość pomiarowa, na której można polegać w dziedzinach inżynierii, designu produktów i procesów, kontroli jakości itd.
MarSurf CM plus explorer 100
| Nr art. 6350027
Powiększenie obiektywu 5x - 100x
maks. masa próbki 10 kg
Napięcie zasilania 100–240 V
Zasada pomiaru Opatentowana konfokalna metoda pomiaru
Wysokość próbki (do maks.) 70 mm (więcej na zapytanie)
Źródło światła Wysokowydajna dioda LED (505 nm/biała)
Interfejs próbny Odbicie światła 0,1 - 100% powlekane, niepowlekane, od lustrzanego po rozproszone
Szum pomiarowy (moduł piezo) 1 nm
Szum pomiarowy (jednostka regulacji) 5 nm
Rewolwer Warianty ręczne/zmotoryzowane
Objętość pozycjonowania x 100 mm
Objętość pozycjonowania y 100 mm
Objętość pozycjonowania z 70 mm
Uzupełnienie dla objętości pozycjonowania x y z Zwiększenie osi Z na życzenie klienta
Języki: Niemiecki , Angielski , Francuski , Włoski , Hiszpański , Portugalski , Polski , Rosyjski , Turecki , Chiński , Japoński , Koreański

Różnorodne obszary wykorzystania naszego produktu

Budowa maszyn
Pomiar ilościowy i jakościowy chropowatości, geometrii i stopnia zużycia

Elektronika i półprzewodniki
Inspekcja komponentów w zakresach do submikrometrycznego, dla zapewnienia pozbawionych wad produktów

Technika medyczna
Kontrola jakości powierzchni dla technologii medycznej, w obszarach produkcyjnych i laboratoriach

Badania materiałowe
Optymalizacja właściwości funkcyjnych nowych powierzchni i produktów

Technika mikrosystemów
Pomiar złożonej geometrii powierzchni nawet najmniejszych komponentów z dokładnością do nanometra
Prawidłowy, powtarzalny pomiar
Dane pomiarowe użytkownika są rejestrowane niezawodnie i w sposób powtarzalny oraz gwarantują najwyższą jakość surowych danych i wierność profili.
Szeroki zakres przedmiotów obrabianych
Niezależny od materiału pomiar dowolnych geometrii i rodzajów powierzchni – lustrzanych, absorbujących, nieprzezroczystych czy przezroczystych.
Intuicyjna obsługa
Prosty interfejs użytkownika z automatycznymi procedurami dla wszystkich istotnych parametrów pomiarowych oraz użytkowania formuł pomiarowych dla znanych powierzchni.
Na górę