MarSurf | Profilometria 3D

MarSurf CP / CL select

Nr art. 6350010

Established optical profilometry for QA

Optical profilometers with which you can complete two- and three-dimensional measurement and analysis of surfaces – non-contact, independent of material, and fast.

MarSurf CP / CL <i>select</i>
MarSurf CP / CL <i>select</i>
Flexible solution for quality control

The MarSurf CP select stands out for extremely fast recording of large measuring surfaces while also ensuring high measuring precision.  Thanks to its modular design, the measuring system can be adjusted to various measuring tasks and individual automation, measuring convenience, and accuracy requirements. 

Typical measuring tasks
  • Roughness measurements as per ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Topography measurements (including volume, wear, tribology)
  • Layer thickness measurement
  • Contour and form (2D, 3D)
  • Macro and micro geometries
  • Determination of flatness and coplanarity
  • ...
Maximum data quality

One of our most important criteria, which equates to excellent precision, accuracy, reproducibility and documentation to ensure traceability and auditability. Our greatest service for the customer is to provide a quantitative measuring value that can be implemented reliably in the engineering, product, process design and quality control areas etc.
MarSurf CP / CL select | Nr art. 6350010
Objętość pozycjonowania x 100 mm
Objętość pozycjonowania y 150 mm
Objętość pozycjonowania z 150 mm
Uzupełnienie dla objętości pozycjonowania x y z Dostępne dalsze warianty
Zasilanie 100 - 240 V
Zasada pomiaru Chromatyczno-konfokalne
Języki: Niemiecki , Angielski , Francuski , Włoski , Hiszpański , Portugalski , Polski , Rosyjski , Turecki , Chiński , Japoński , Koreański

Różnorodne obszary wykorzystania naszego produktu

Budowa maszyn
Pomiar ilościowy i jakościowy chropowatości, geometrii i stopnia zużycia

Elektronika i półprzewodniki
Inspekcja komponentów w zakresach do submikrometrycznego, dla zapewnienia pozbawionych wad produktów

Technika medyczna
Kontrola jakości powierzchni dla technologii medycznej, w obszarach produkcyjnych i laboratoriach

Badania materiałowe
Optymalizacja właściwości funkcyjnych nowych powierzchni i produktów

Technika mikrosystemów
Pomiar złożonej geometrii powierzchni nawet najmniejszych komponentów z dokładnością do nanometra
Prawidłowy, powtarzalny pomiar
Your measuring data is recorded reliably, can be replicated, and guarantees the highest quality of raw data and profile accuracy.
Duży zakres pomiarowy
Complete freedom of portal design and flexible component selection from a module building set.
Zautomatyzowane procesy
Fully automated, database-based pallet measurements with automated measuring and evaluation sequence (user-dependent one click solution).
Na górę