MarSurf | Powierzchniowe pomiary 3D

MarSurf CM select

Nr art. 6350006

Measuring solution adapted to the application

The MarSurf CM select is a powerful, configurable confocal microscope for the three-dimensional measurement and analysis of surfaces – contactless, independent of material, and fast

MarSurf CM <i>select</i>
MarSurf CM <i>select</i>
Typical measuring tasks
  • Roughness measurements as per
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Topography measurements (including volume, wear, tribology)
  • contour and form (2D, 3D)
  • pore, particle analysis
  • defect detection
  • ...
Measuring solution adapted to the application

As a multi-sensor system, the MarSurf CM select offers the possibility of combining different sensor technologies in one measuring device. Depending on the measuring task, the optimal point sensor can also be flexibly selected. The MarSurf CM select meets your individual requirements for sample size, automation, measuring comfort and accuracy – right up to the fully automated measuring solution.
Maximum data quality

One of our most important criteria, which equates to excellent precision, accuracy, reproducibility, and documentation to ensure traceability and auditability. Our greatest service for the customer is to provide a quantitative measuring value that can be implemented reliably in the engineering, product, process design, and quality control areas.
MarSurf CM select | Art.-Nr. 6350006
Masa przedmiotu obrabianego (maks.) w kg 15 kg
Prędkość pomiaru up to 100fps
Rozdzielczość up to 2 (nm) vertical
Zasada pomiaru Konfokalna
Wysokowydajna dioda LED (505 nm/biała)
Języki: Niemiecki , Angielski , Francuski , Włoski , Hiszpański , Portugalski , Polski , Rosyjski , Turecki , Chiński , Japoński , Koreański
Pozostałe Collision detection in xyz direction
Napięcie zasilania 100 - 240 V
Parametry ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
Wymiary
Rysunek zwymiarowany 1

Różnorodne obszary wykorzystania naszego produktu

Budowa maszyn
Pomiar ilościowy i jakościowy chropowatości, geometrii i stopnia zużycia

Elektronika i półprzewodniki
Inspekcja komponentów w zakresach do submikrometrycznego, dla zapewnienia pozbawionych wad produktów

Technika medyczna
Kontrola jakości powierzchni dla technologii medycznej, w obszarach produkcyjnych i laboratoriach

Badania materiałowe
Optymalizacja właściwości funkcyjnych nowych powierzchni i produktów

Technika mikrosystemów
Pomiar złożonej geometrii powierzchni nawet najmniejszych komponentów z dokładnością do nanometra
Karta katalogowa
Filmy wideo dot. produktów, j. polski
Filmy wideo o produktach, j. angielski
Correct, reproducible measurement
Your measuring data is recorded reliably, can be replicated, and guarantees the highest quality of raw data and profile accuracy.
Automated processes
High resolution measurements of large surfaces in the shortest time guarantee maximum cost-effectiveness without compromising on quality.
Large measuring range
Complete freedom of portal design and flexible component selection from a module building set.
Na górę