MarSurf 3D | Powierzchniowe pomiary 3D

MarSurf 3D CM explorer

Nr art. 6350000

The MarSurf CM explorer is a compact confocal microscope for the accurate three-dimensional measurement and analysis of surfaces – contactless, independent of material, and fast.

MarSurf 3D CM <i>explorer</i>
MarSurf 3D CM <i>explorer</i>
Flexible all-round measuring solution

The MarSurf CM explorer is suitable for use in test laboratories and equipped for quality assurance in production environments due to its robust construction and insensitivity to environmental influences.
Typical measuring tasks
  • Roughness measurements as per
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Topography measurements (including volume, wear, tribology)
  • contour and form (2D, 3D)
  • pore, particle analysis
  • defect detection
  • ...
Maximum data quality

One of our most important criteria, which equates to excellent precision, accuracy, repeatability, reproducibility and documentation to ensure traceability and auditability. Our greatest service for the customer is to provide a quantitative measuring value that can be implemented reliably in the engineering, product, process design and quality control areas etc.
MarSurf 3D CM explorer | Nr art. 6350000
Objętość pozycjonowania x 50 mm
Objętość pozycjonowania y 50 mm
Objętość pozycjonowania z 70 mm
Uzupełnienie dla objętości pozycjonowania x y z Optional: Positioning volume in z: 40 - 110 mm
Napięcie zasilania 100 - 240 V
Zasada pomiaru Konfokalna 
Wysokowydajna dioda LED (505 nm / biała)
Języki: Niemiecki , Angielski , Francuski , Włoski , Hiszpański , Portugalski , Polski , Rosyjski , Turecki , Chiński , Japoński , Koreański

Różnorodne obszary wykorzystania naszego produktu

Budowa maszyn
Pomiar ilościowy i jakościowy chropowatości, geometrii i stopnia zużycia

Elektronika i półprzewodniki
Inspekcja komponentów w zakresach do submikrometrycznego, dla zapewnienia pozbawionych wad produktów

Technika medyczna
Kontrola jakości powierzchni dla technologii medycznej, w obszarach produkcyjnych i laboratoriach

Badania materiałowe
Optymalizacja właściwości funkcyjnych nowych powierzchni i produktów
 
Technika mikrosystemów
Pomiar złożonej geometrii powierzchni nawet najmniejszych komponentów z dokładnością do nanometra
Prawidłowy, powtarzalny pomiar
Your measuring data is recorded reliably, can be replicated, and guarantees the highest quality of raw data and profile accuracy.
Szeroki zakres przedmiotów obrabianych
Material-independent measurement of any geometries and surface characteristics regardless of whether they are reflective, absorbent, opaque or transparent.
Intuicyjna obsługa
Simple, user-guided interface with automatic modes for all significant measuring parameters, including use of measurement protocols for known surfaces.
Na górę