MarSurf | Medición 3D en toda la superficie

MarSurf CM plus explorer 100

Nº de artículo 6350027

La nueva serie MarSurf CM explorer abarca los microscopios confocales absolutamente excepcionales que permiten medir o analizar superficies de forma precisa y tridimensional, sin contacto, independientemente del material de que se trate y de forma muy rápida.

MarSurf CM <i>plus explorer</i> 100<br/>
Solución de medición flexible e integral

Los potentes aparatos MarSurf CM garantizan una medición fiable en todas las superficies, por lo que los usuarios disponen de una excelente resolución con una robustez máxima, una magnífica aceptación de flancos y una dinámica óptima.
Asimismo, las herramientas de vanguardia permiten realizar mediciones ultrarrápidas (hasta 4 veces más rápidas que antes) con una densidad de puntos de medición muy alta que ofrecen datos brutos de alta calidad y sin filtrar.
Al seleccionar la variante CM  explorer o CM  plus explorer para cumplir los requisitos más exigentes, el sistema puede adaptarse a la aplicación del usuario y multiplica por dos el rendimiento en cuanto a repetibilidad e incertidumbre de medición.

Tareas de medición típicas
  • Mediciones de rugosidad según
    ISO 21920 / 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Mediciones de topografía (p. ej.., volumen, desgaste, tribología)
  • Contorno y forma (2D, 3D)
  • Análisis de poros y partículas
  • Detección defectuosa
  • ...
Máxima calidad de los datos

Uno de nuestros criterios más importantes, lo que significa un excelente nivel de precisión, exactitud, repetibilidad, reproducibilidad y documentación para garantizar la rastreabilidad y la capacidad para realizar auditorías. Nuestro mayor servicio para el cliente es un valor de medición cuantitativo en el que se puede confiar plenamente en lo que se refiere a ingeniería, diseño de productos y de procesos, control de calidad, etc.
MarSurf CM plus explorer 100
| N.º de referencia 6350027
Aumento del objetivo 5x - 100x
Peso máximo de la muestra 10 kg
Alimentación de corriente 100–240 V
Principio de medición método conofocal patentado
Altura de la muestra 70 mm (más a petición)
Fuente de luz LED de alto rendimiento (505 nm/blanco)
Superficie de la muestra Reflectividad del 0,1 % al 100 % con o sin revestimiento, de reflectante a difuso
Ruido de medición (módulo piezoeléctrico) 1 nm
Ruido de medición (unidad de ajuste) 5 nm
Cabezal versión manual/motorizada
Volumen de posicionamiento x 100 mm
Volumen de posicionamiento y 100 mm
Volumen de posicionamiento z 70 mm
Complemento al volumen de posicionamiento X y Z Aumento del volumen de posicionamiento en Z a petición
Idiomas: Alemán , Inglés , Francés , Italiano , Español , Portugués , Polaco , Ruso , Turco , Chino , Japonés , Coreano

Múltiples campos de aplicación de nuestro producto

Ingeniería mecánica
Cualificar y cuantificar rugosidad, geometría y grado de desgaste

Electrónica y semiconductores
Inspección de piezas hasta el rango de las submicras para obtener productos sin defectos

Ingeniería biomédica
Garantía de calidad de superficies biomédicas en la producción y en el laboratorio

Ciencias de los materiales
Optimización de las propiedades de funcionamiento de superficies y productos nuevos

Tecnología de microsistemas
Mida geometrías complejas de superficies de piezas muy pequeñas con una precisión de nanómetros
Medición correcta y reproducible
Sus datos de medición se registran de forma fiable y repetible y garantizan un máximo nivel de calidad de los datos brutos y de precisión del perfil.
Amplia gama de piezas de trabajo
Medición independiente del material de cualquier geometría y tipo de superficie, ya sea reflectante, absorbente, opaca o transparente.
Manejo intuitivo
Interfaz sencilla que guía al usuario con funciones automáticas para todos los parámetros de medición esenciales, así como para el uso de fórmulas de medición en superficies conocidas.
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