MarSurf | 3D 表面测量

MarSurf CM select

产品货号 6350006

您应用的定制测量解决方案

MarSurf CM select 是强大的可配置型共焦显微镜,用于表面的三维测量和分析 – 无接触,与材料无关,而且速度快

MarSurf CM <i>select</i>
MarSurf CM <i>select</i>
典型测量任务
  • 粗糙度测量符合
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)
  • 轮廓和形状 (2D, 3D)
  • 孔,颗粒分析
  • 缺陷检测
  • ...
根据应用调整的测量解决方案

作为一个多传感器系统,MarSurf CM select 将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择最佳的点传感器。MarSurf CM select 可以满足您对样本量、自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 - 甚至全自动的测量解决方案。
最高数据质量

我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可再现性和文档记录,保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、过程设计和质量控制领域的定量测量值。
MarSurf CM select | Art.-Nr. 6350006
工件最大重量 (kg) 15 kg
测量速度 最高 100fps
分辨率 可达 2 (nm) 垂直
测量原则 共焦
高性能 LED(505 nm / 白)
语言 德语 , English , 法语 , 意大利语 , 西班牙语 , 葡萄牙语 , 波兰语 , 俄语 , 土耳其语 , 中文 , 日语 , 韩语
其他 xyz 方向碰撞检测
提供的电源 100 - 240 V
表面参数 ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
尺寸
图纸尺寸 1

我们产品的各种应用

机械工程
鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量

电子和半导体
亚微米级的组件检测,确保产品无缺陷

医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证

材料科学
新表面和产品的功能属性的优化

微系统技术
以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状
Correct, reproducible measurement
您的测量数据将可靠地记录、可以复制,并确保原始数据和轮廓精度有最高的质量。
Automated processes
以最短的时间完成高分辨率大表面测量,保证成本效益且不影响质量。
Large measuring range
模块化结构,实现完全自由的便携设计和灵活的组件选择。
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