Mahr | 제품 뉴스

MarSurf WI 시리즈: 나노미터 이하 범위에서의 정밀한 측정

| 마케팅팀
Produkte der MarSurf WI-Serie: MarSurf WI 50M, MarSurf WI 50 und MarSurf WI 100

측정기 전문업체 Mahr의 혁신적인 신제품 시리즈: 강력한 백색광 간섭계 3종은 광학 장비의 포트폴리오를 넓혀줍니다. 이 장비들은 나노미터부터 마이크로미터까지 다양한 크기를 가진 제품의 3D 측정을 가능케 합니다.

의료 기술, 광학 또는 반도체 산업 등의 다양한 업종에서 렌즈, 웨이퍼 또는 임플란트가 최적의 특성을 갖추기 위해 위해서는 최적의 매끄러운 표면이 유지되어야 합니다. 이를 위해서는 정교하게 제작하고 제조사의 실험실과 품질 보증 부서에서 세심한 시험을 거칩니다. 표면의 거칠기는 나노미터 이하의 단위로 좌우되므로 백색광 간섭 촬영을 측정 방법으로 선택합니다.

Mahr의 새로운 백색광 간섭계 3종에는 독자적인 ICA("지능형 상관 알고리즘") 기술이 탑재되어 있습니다. ICA를 통해 매우 정확한 높이 값의 통계적 측정, 최상의 데이터 품질, 80피코미터에 불과한 최소한의 노이즈 수치 등을 구현할 수 있습니다. 단 몇 초 만에 측정 데이터가 제시되어집니다. 사용자는 고 정밀 토포그래피 데이터 및 표면 구조를 매우 높은 수직 해상도를 얻을 수 있습니다.

Mahr의 새로운 백색광 간섭계 시리즈는 3가지 장비로 구성됩니다.

  • 수동 MarSurf WI 50 M - 까다로운 측정 작업을 위한 전천후 입문형 솔루션
  • MarSurf WI 50 - 연구 및 품질 관리를 위한 고정밀 측정 장비
  • 자동MarSurf WI 100 - 특히 대형 측정물을 위한 확장형 Z-축을 포함한 전문 장비

정확도 이외에, 이 3가지 장비는 대형 측정물을 위해 매우 넓은 위치설정 용적, Mahr 고객들이 익히 잘 알고 있고 타사 광학 시스템의 찬사를 받고 있는 직관적인 사용자 소프트웨어의 이점을 갖추고 있습니다. 이를 통해 실험실과 품질 보증 담당자가 단 몇 초 만에 나노미터 범위로 최상의 거칠기, 스텝 높이 또는 레벨을 결정할 수 있습니다.

ICA를 알아보세요!

우리의 새로운 백색광 간섭계의 혁신적인 ICA 기술은 PSI와 VSI 방법의 장점을 결합하였습니다. 그 결과, 고정밀 토포그래피 데이터가 매우 높은 수직 해상도로 제공됩니다.

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