MarSurf 3D | Flächenhafte 3D-Messung

MarSurf 3D WI 50 M

Art.-Nr. 6355000

Das MarSurf WI 50M ist ein leistungsstarkes Weißlicht-Interferometer mit dem Sie Oberflächen dreidimensional messen und analysieren können – berührungsfrei, materialunabhängig und schnell

MarSurf 3D WI 50 M
MarSurf 3D WI 50 M
Leistungsstarke Einstiegslösung

Exaktes Messen im Sub-Nanometerbereich – das gelingt ganz einfach mit dem neuen MarSurf WI 50 M. Mit einer intuitiven Software-Bedienführung und einem sehr nutzerfreundlichen Konzept ist das 3D-Messgerät bestens für den täglichen Einsatz in Labor und Qualitätsmanagement ausgelegt.
Das neue WI 50 M erfüllt alle Anforderungen, die Ihre Messaufgaben im Nanometerbereich an Sie stellen – bei einer maximalen Performance und einem überzeugenden Preis-Leistungs-Verhältnis. Durch die Reduzierung auf das Wesentliche, sein kompaktes Design und dem großen Bauraum erfüllt das Tool im besten Sinne den Anspruch „einer optimalen Einstiegslösung.  

Typische Messaufgaben
  • Rauheitsmessungen nach
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Topografiemessungen (u.a. Volumen, Verschleiß, Tribologie)
  • Kontur und Form (2D, 3D)
  • Poren-, Partikelanaylse
  • Defekt-Detektion
  • ...
Höchstmaß an Datenqualität

Eines unserer wichtigsten Kriterien, das bedeutet exzellente Präzision, Genauigkeit, Wiederholgenauigkeit, Reproduzierbarkeit und Dokumentation für Rückführbarkeit und Auditierbarkeit. Unsere größte Leistung für den Kunden ist ein quantitativer Messwert, auf den er sich in den Bereichen Engineering, Produkt- und Prozessdesign, Qualitätskontrolle usw. verlassen kann.
MarSurf 3D WI 50 M | Art.-Nr. 6355000
Messprinzip Weißlicht-Interferometer
Hochleistungs-LED (650 nm / weiß)

Vielfältige Anwendungsgebiete unseres Produktes

Maschinenbau
Rauheit, Geometrie und Verschleißvolumen qualifizieren und quantifizieren

Elektronik und Halbleiter
Bauteilinspektion bis in den Subnanometerbereich für fehlerfreie Produkte

Medizintechnik
Qualitätssicherung von medizintechnischen Oberflächen in Produktion und Labor

Materialwissenschaft
Optimierung von Funktionseigenschaften neuer Oberflächen und Produkte
 
Mikrosystemtechnik
Komplexe Oberflächengeometrien von kleinsten Bauteilen nanometergenau vermessen
Richtig, reproduzierbar Messen
Ihre Messdaten werden zuverlässig und wiederholbar erfasst und gewährleisten höchste Rohdatenqualität und Profiltreue.
Breites Werkstückspektrum
Materialunabhängige Messung beliebiger Geometrien und Oberflächenbeschaffenheiten egal ob spiegelnd, absorbierend, opak oder transparent.
Intuitive Handhabung
Einfache benutzergeführte Oberfläche mit Automatiken für alle wesentlichen Messparameter, sowie Nutzung von Messrezepten für bekannte Oberflächen.
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