Weißlicht-Interferometer

Maximale Präzision für extrem glatte Oberflächen

Weißlicht-Interferometer

Strukturen und Topographien im Sub-Nanometerbereich erfassen

Sie wollen feinste Rauheiten, Stufenhöhen und Ebenen im Nanometerbereich messen, und das möglichst schnell? Dann sollten Sie die neuen, hochinnovativem Weißlichtinterferometer von Mahr kennen lernen!

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Die Broschüre „Optische Messtechnik für die Oberflächenanalyse“ von Mahr informiert Sie auf 92 Seiten über Anwendungsbereiche, Messtechnologien und Softwarelösungen und geht dediziert auf das Portfolio ein.

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