Optik profilometre

Endüstri ve araştırma için yüzey metrolojisi

Temassız, malzemeden bağımsız ve hızlı

Denenmiş ve test edilmiş çok yönlü

Modüler tasarımları sayesinde ölçüm sistemleri, çeşitli ölçüm görevlerine ve bağımsız otomasyon gereksinimlerine göre ayarlanabilir. Ölçüm görevine bağlı olarak farklı sensörlerin ve eksen sistemlerinin esnek seçimi kolaylaştırılmıştır. ISO 4287 ve ISO 25178'e göre geometrilerin, pürüzlülüğün, katman kalınlıklarının ve diğer birçok uygulamanın değerlendirilmesi bu sayede kolay ve çok yönlü bir şekilde gerçekleştirilebilir.

Download the brochure now for free!

The brochure "Optical Metrology for Surface Analysis" from Mahr informs you on 92 pages about application areas, measuring technologies and software solutions and goes into dedicated detail about the portfolio.

To top