白色光干渉計

最高の精度で極めて滑らかな表面を実現

白色光干渉計

サブナノメータ領域での構造・トポグラフィの測定

ナノメートル領域での微細な粗さ、段差、面を測定したいのですか?それなら、マール社の新しい、非常に革新的な白色光干渉計を知るべきです!

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The brochure "Optical Metrology for Surface Analysis" from Mahr informs you on 92 pages about application areas, measuring technologies and software solutions and goes into dedicated detail about the portfolio.

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