白色光干渉計

最高の精度で極めて滑らかな表面を実現

白色光干渉計

サブナノメータ領域での構造・トポグラフィの測定

ナノメートル領域での微細な粗さ、段差、面を測定したいのですか?それなら、マール社の新しい、非常に革新的な白色光干渉計を知るべきです!

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Mahrのパンフレット「Optical Metrology for Surface Analysis(表面分析のための光学式測定)」は92ページにわたり、アプリケーション・測定技術・ソフトウェアソリューションについて、また製品ポートフォリオについて詳しく説明しています。

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