MarSurf | 3D表面測定

MarSurf CM select

Art. no. 6350006

用途に合わせた測定ソリューション

MarSurf CM select は表面の三次元測定および分析用の強力で設定可能な共焦点 顕微鏡、非触覚、材料に依存せずかつ高速 。

MarSurf CM <i>select</i>
MarSurf CM <i>select</i>
典型的な測定タスク

  • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178に準拠した粗さ測定
  • トポグラフィー測定(体積、摩耗、トライボロジーを含む)
  • 輪郭と形状 (2D, 3D)
  • 細孔、粒子分析
  • 欠陥検出
  • ...
用途に合わせた測定ソリューション

マルチセンサーシステムとして、MarSurf C セレクトは、一つの測定装置に異なるセンサー技術を組み合わせることが可能です。測定タスクに応じて、最適なポイントセンサーを柔軟に選択することもできます。MarSurf CM セレクトは、サンプルサイズ、自動化、測定の快適性および精度から、完全に自動化された測定ソリューションまで、個々の要件を満たします。
最高のデータ品質

これは当社の最も重要な基準の一つであり、トレーサビリティと監査可能性を確保するための優れた精度、正確さ、再現性、および文書化に相当します。お客様に対する当社の最大のサービスは、エンジニアリング、製品、プロセス設計、品質管理の分野で確実に実装できる定量的な測定値を提供することです。

当社製品のさまざまな用途

機械工学
粗さ、形状および摩耗量を定性および定量化します

エレクトロニクスと半導体
欠陥のない製品のサブミクロンまでの部品検査

医療技術
製造および実験室における医療用表面の品質保証

材料科学
新しい表面と製品の機能特性の最適化

マイクロシステムズテクノロジー
ナノメートルの精度で最小部品の複雑な表面形状を測定
正しく、再現性のある測定
測定データは確実に記録され、複製が可能であるため、最高品質の生データとプロファイル精度が保証されます。
自動化されたプロセス
大きな表面の高解像度測定を最短時間で行うことにより、品質を妥協することなく最大の費用対効果を保証します。
大きな測定範囲
完全に自由なポータル設計とモジュール構築セットからの柔軟なコンポーネント選択
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