MarSurf | Misura 3D su larga scala

MarSurf WI 50 M

Art. no. 6355000

Il sistema entry-level

MarSurf WI 50M è un potente interferometro a luce bianca che consente di misurare e analizzare superfici a tre dimensioni – senza contatto, indipendentemente dal materiale e velocemente

MarSurf WI 50 M
MarSurf WI 50 M
Potente soluzione entry-level

Misurare con precisione subnanometrica è facilissimo con il nuovo MarSurf WI 50 M. Dotato di un software con guida utente intuitiva e caratterizzato da un uso molto semplice, lo strumento di misura 3D è progettato in modo ottimale per l'uso quotidiano in laboratorio e per la gestione della qualità.
Il nuovo WI 50 M soddisfa tutti i requisiti che caratterizzano le vostre operazioni di misura nanometrica, con una prestazione ottimale e un eccezionale rapporto qualità-prezzo. Grazie al design minimalista, alla struttura compatta e all'ampio spazio disponibile, lo strumento soddisfa al meglio il requisito della "soluzione ottimale entry-level".  

Operazioni di misura tipiche
  • Misure di rugosità secondo
    ISO 4287 e ISO 13565 / ISO 25178
  • Misure topografiche (es. volume, usura, tribologia)
  • Profilo 2D e forma (2D, 3D)
  • Analisi delle particelle, dei pori
  • Rilevamento di difetti
  • ...
Massima qualità dei dati

Uno dei nostri criteri più importanti, ossia precisione eccellente, accuratezza, accuratezza di ripetibilità, riproducibilità e documentazione per rintracciabilità e possibilità di auditing. Il maggior risultato che ottiene il cliente è un valore di misura quantitativo, sul quale può fare affidamento nei settori di engineering, progettazione del prodotto e del processo, controllo qualità ecc.

Campi di applicazione molteplici del nostro prodotto

Costruzioni meccaniche
Qualificazione e quantificazione di rugosità, geometria e volume di usura

Elettronica e semiconduttori
Ispezione subnanometrica dei componenti per ottenere prodotti perfetti

Tecnologia medica
Controllo di qualità su superfici di dispositivi medicali durante la produzione e in laboratorio

Scienza dei materiali
Ottimizzazione delle caratteristiche funzionali di nuove superfici e nuovi prodotti
 
Tecnologia dei microsistemi
Misura di geometrie di superfici complesse di microcomponenti con precisione nanometrica
Misura corretta e riproducibile
I dati di misura vengono rilevati in modo affidabile e ripetibile, assicurando la massima qualità dei dati non elaborati e la massima fedeltà al profilo.
Ampia gamma di pezzi da lavorare
Misura indipendente dal materiale di qualsiasi geometria e finitura superficiale a prescindere dal fatto che sia riflettente, assorbente, opaca o trasparente.
Utilizzo intuitivo
Interfaccia utente guidata e intuitiva con funzioni automatiche per tutti i parametri di misura fondamentali e utilizzo di ricette di misura per superfici note.
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