MarSurf | Síkszerű 3D mérések

MarSurf WI 50 M

Cikkszám 6355000

A bevezető rendszer

A MarSurf WI 50M nagy teljesítményű fehér fényű interferométer, amellyel a felületek három dimenzióban mérhetők és elemezhetők, - ráadásul érintésmentesen, anyagtól függetlenül és gyorsan

MarSurf WI 50 M
MarSurf WI 50 M
Nagy teljesítményű bevezető megoldás

Pontos mérés a szubnanométeres tartományban – ez nagyon egyszerűen hangzik az új MarSurf WI 50 M-mel. Az intuitív kezelhető szoftverrel és a nagyon felhasználóbarát koncepcióval a 3D-s mérőkészüléket laboratóriumban és minőségirányításban történő napi használatra tervezték.
Az új WI 50 teljesít minden követelményt, amit a nanométeres tartományban végrehajtandó mérési feladatai támasztanak – maximális teljesítménnyel és kiemelkedő ár-érték aránnyal. A lényegre, a kompakt kialakításra és a nagy mérhető tartományra koncentrálva az eszköz a legjobb értelemben teljesíti egy „optimális bevezető megoldással” szemben támasztott igényeket.  

Tipikus mérési feladatok
  • Érdességmérés
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 szerint
  • Topográfiamérések (pl. térfogatok, kopás, tribológia)
  • Kontúr és alak (2D, 3D)
  • Pórus-, részecskeelemzés
  • Hibakeresés
  • ...
Maximális adatminőség

Az egyik legfontosabb kritérium, ami maximális precizitást, pontosságot, ismétlési pontosságot, reprodukálhatóságot és a nyomon-követhetőséghez és auditálhatósághoz szükséges dokumentálást jelenti. Ügyfelünk részére nyújtandó legfontosabb szolgáltatásunk az a mérési érték, amelyben meg lehet bízni a műszaki tudományok, a termék- és folyamattervezés, a minőségellenőrzés és egyebek terén.

Termék sokoldalú alkalmazási területtel

Gépgyártás
Érdesség, geometria és kopási mennyiség minősítése és számszerűsítése

Elektronika és félvezetők
Alkatrészvizsgálat a nanométer alatti tartományig a hibamentes termékekért

Orvostechnika
Orvostechnikai felületek minőségbiztosítása a termelésben és a laboratóriumban

Anyagtudomány
Új felületek és termékek funkcionális jellemzőinek optimalizálása
 
Mikrorendszer technológia
A legkisebb alkatrészek komplex felületgeometriáinak nanométer pontosságú mérése
Helyes, reprodukálható mérés
A mérési adatai megbízhatóan és megismételhetően kerülnek rögzítésre, azok maximális nyers adatminőséget és profilhűséget garantálnak.
Munkadarabok széles választéka
Tetszőleges geometriák és felületi minőség anyagtól független mérése, mindegy, hogy fényvisszaverő, fényelnyelő, opálos vagy áttetsző.
Intuitív kezelés
Egyszerű, felhasználó által vezérelt interfész automatikával minden lényeges mérési paraméterhez, valamint mérési receptúrák használata ismert felületekhez.
Felfelé