MarSurf | Síkszerű 3D mérések

MarSurf CM mobile

Cikkszám 6350020

Maximális rugalmasság

Mobil 3D felületmérő készülék a termelési környezetben történő használatra. Síkszerű pontos mérés és elemzés - ráadásul érintésmentesen, anyagtól függetlenül és gyorsan

MarSurf CM <i>mobile</i>
MarSurf CM <i>mobile</i>
Tipikus mérési feladatok
  • Érdességmérések
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 szerint
  • Topográfiamérések (pl. térfogatok, kopás, tribológia)
  • Kontúr és alak (2D, 3D)
  • Pórus-, részecskeelemzés
  • Hibakeresés
  • ...
Mobilitás

A MarSurf CM mobile-t nagy tárgyakon és nehezen mozgó mintákon, pl. hengereken, szerszámokon, stb., történő mérések végrehajtásához fejlesztették ki. Ezért könnyen szállítható és néhány perc alatt már használható is a helyszínen.
Maximális adatminőség

Az egyik legfontosabb kritérium, ami maximális precizitást, pontosságot, ismétlési pontosságot, reprodukálhatóságot és a nyomon-követhetőséghez és auditálhatósághoz szükséges dokumentálást jelenti. Ügyfelünk részére nyújtandó legfontosabb szolgáltatásunk az a mérési érték, amelyben meg lehet bízni a műszaki tudományok, a termék- és folyamattervezés, a minőségellenőrzés és egyebek terén.

Termék sokoldalú alkalmazási területtel

Gépgyártás
Érdesség, geometria és kopási mennyiség minősítése és számszerűsítése

Szerszámtechnika
Alkatrészvizsgálat a mikrométer alatti tartományig a hibamentes termékekért

Orvostechnika
Orvostechnikai felületek minőségbiztosítása a termelésben és a laboratóriumban

Anyagtudomány
Új felületek és termékek funkcionális jellemzőinek optimalizálása

Mikrorendszer technológia
A legkisebb alkatrészek komplex felületgeometriáinak nanométer pontosságú mérése
Helyes, reprodukálható mérés
A mérési adatai megbízhatóan és megismételhetően kerülnek rögzítésre, azok maximális nyers adatminőséget és profilhűséget garantálnak.
Robusztus kialakítás
A szabadalmaztatott technológia lehetővé teszi a megbízható mérési adat felvételt még a mérőszobán kívüli kedvezőtlen feltételek esetén is.
Intuitív kezelés
Egyszerű, felhasználó által vezérelt interfész automatikával minden lényeges mérési paraméterhez, valamint mérési receptúrák használata ismert felületekhez.
Felfelé