MarSurf | Síkszerű 3D mérések

MarSurf CM select

Cikkszám 6350006

Minden használathoz megfelelő mérési megoldás

A MarSurf CM select nagy teljesítményű konfigurálható konfokális mikroszkóp, amellyel a felületek három dimenzióban mérhetők és elemezhetők, - ráadásul érintésmentesen, anyagtól függetlenül és gyorsan

MarSurf CM <i>select</i>
MarSurf CM <i>select</i>
Tipikus mérési feladatok
  • Érdességmérések
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 szerint
  • Topográfiamérések (pl. térfogatok, kopás, tribológia)
  • Kontúr és alak (2D, 3D)
  • Pórus-, részecskeelemzés
  • Hibakeresés
  • ...
Minden használathoz megfelelő mérési megoldás

A MarSurf CM select többszenzoros rendszerrel különböző szenzoros technológiák kombinálhatók egy mérőkészülékben. Az adott mérési feladattól függően rugalmasan kiválaszthatók optimális pontszenzorok is. A MarSurf CM select teljesíti a minták méretére, az automatizálásra, a mérési kényelemre és a pontosságra, de még a teljesen automatizált mérési megoldásra vonatkozó egyedi igényeit is.
Maximális adatminőség

Az egyik legfontosabb kritérium, ami maximális precizitást, pontosságot, ismétlési pontosságot, reprodukálhatóságot és a nyomon-követhetőséghez és auditálhatósághoz szükséges dokumentálást jelenti. Ügyfelünk részére nyújtandó legfontosabb szolgáltatásunk az a mérési érték, amelyben meg lehet bízni a műszaki tudományok, a termék- és folyamattervezés, a minőségellenőrzés és egyebek terén.

Termék sokoldalú alkalmazási területtel

Gépgyártás
Érdesség, geometria és kopási mennyiség minősítése és számszerűsítése

Elektronika és félvezetők
Alkatrészvizsgálat a mikrométer alatti tartományig a hibamentes termékekért

Orvostechnika
Orvostechnikai felületek minőségbiztosítása a termelésben és a laboratóriumban

Anyagtudomány
Új felületek és termékek funkcionális jellemzőinek optimalizálása

Mikrorendszer technológia
A legkisebb alkatrészek komplex felületgeometriáinak nanométer pontosságú mérése
Helyes, reprodukálható mérés
A mérési adatai megbízhatóan és megismételhetően kerülnek rögzítésre, azok maximális nyers adatminőséget és profilhűséget garantálnak.
Automatizált folyamatok
A nagy felületek legrövidebb időn belüli nagy felbontású mérései maximális hatékonyságot garantálnak a minőség romlása nélkül.
Nagy mérési tartomány
Tökéletes szabadság a portál felépítésének és a moduláris rendszerű komponensek flexibilis kiválasztásának köszönhetően.
Felfelé