MarSurf | Síkszerű 3D mérések

MarSurf CM expert

Cikkszám 6350002

Nagy teljesítményű labor és QS rendszer

A MarSurf CM expert nagy teljesítményű konfigurálható konfokális mikroszkóp, amellyel a felületek három dimenzióban mérhetők és elemezhetők, - ráadásul érintésmentesen, anyagtól függetlenül és gyorsan

MarSurf CM <i>expert</i>
MarSurf CM <i>expert</i>
Nagy teljesítményű labor és QS rendszer

A robusztus felépítésnek és a környezeti hatásokkal szembeni érzéketlenségnek köszönhetően a MarSurf CM expert nemcsak a teszt- és vizsgálólaborokban történő használatra alkalmas, hanem a termelési környezetben végrehajtandó minőségbiztosításhoz is kiváló megoldás. 
Kiegészítő manuális Z pozicionálással, nagy X és Y irányú mozgástartománnyal és automatizálási lehetőséggel kiváló kezelési kényelmet kínál. 
Tipikus mérési feladatok
  • Érdességmérések
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 szerint
  • Topográfiamérések (pl. térfogatok, kopás, tribológia)
  • Kontúr és alak (2D, 3D)
  • Pórus-, részecskeelemzés
  • Hibakeresés
  • ...
Maximális adatminőség

Az egyik legfontosabb kritérium, ami maximális precizitást, pontosságot, ismétlési pontosságot, reprodukálhatóságot és a nyomon-követhetőséghez és auditálhatósághoz szükséges dokumentálást jelenti. Ügyfelünk részére nyújtandó legfontosabb szolgáltatásunk az a mérési érték, amelyben meg lehet bízni a műszaki tudományok, a termék- és folyamattervezés, a minőségellenőrzés és egyebek terén.

Termék sokoldalú alkalmazási területtel

Gépgyártás
Érdesség, geometria és kopási mennyiség minősítése és számszerűsítése

Elektronika és félvezetők
Alkatrészvizsgálat a mikrométer alatti tartományig a hibamentes termékekért

Orvostechnika
Orvostechnikai felületek minőségbiztosítása a termelésben és a laboratóriumban

Anyagtudomány
Új felületek és termékek funkcionális jellemzőinek optimalizálása

Mikrorendszer technológia
A legkisebb alkatrészek komplex felületgeometriáinak nanométer pontosságú mérése
Helyes, reprodukálható mérés
A mérési adatai megbízhatóan és megismételhetően kerülnek rögzítésre, azok maximális nyers adatminőséget és profilhűséget garantálnak.
Szabadon programozható mérési szekvenciák
Teljesen automatikus, adatbázis-alapú paletta mérések automatizált mérési és kiértékelési folyamattal (felhasználótól függően 1 kattintásos megoldás).
Intuitív kezelés
Egyszerű, felhasználó által vezérelt interfész automatikával minden lényeges mérési paraméterhez, valamint mérési receptúrák használata ismert felületekhez.
Felfelé