MarSurf 3D | Síkszerű 3D mérések

MarSurf 3D CM explorer

Cikkszám 6350000

Rugalmas univerzális mérési megoldás

A MarSurf CM explorer kompakt konfokális mikroszkóp, amellyel a felületek három dimenzióban mérhetők és elemezhetők, - ráadásul érintésmentesen, anyagtól függetlenül és gyorsan.

MarSurf 3D CM <i>explorer</i>
MarSurf 3D CM <i>explorer</i>
Rugalmas univerzális mérési megoldás

A robusztus felépítésnek és a környezeti hatásokkal szembeni érzéketlenségnek köszönhetően a MarSurf CM explorer nemcsak a teszt- és vizsgálólaborokban történő használatra alkalmas, hanem a termelési környezetben végrehajtandó minőségbiztosításhoz is kiváló megoldás.
Tipikus mérési feladatok
  • Érdességmérések
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 szerint
  • Topográfiamérések (pl. térfogatok, kopás, tribológia)
  • Kontúr és alak (2D, 3D)
  • Pórus-, részecskeelemzés
  • Hibakeresés
  • ...
Maximális adatminőség

Az egyik legfontosabb kritérium, ami maximális precizitást, pontosságot, ismétlési pontosságot, reprodukálhatóságot és a nyomon-követhetőséghez és auditálhatósághoz szükséges dokumentálást jelenti. Ügyfelünk részére nyújtandó legfontosabb szolgáltatásunk az a mérési érték, amelyben meg lehet bízni a műszaki tudományok, a termék- és folyamattervezés, a minőségellenőrzés és egyebek terén.
MarSurf 3D CM explorer | Cikksz. 6350000
X pozicionáló volumen 50 mm
Pozicionálási tartomány Y 50 mm
Z pozicionáló volumen 70 mm
Kiegészítés X, Y, Z pozicionáló volumenhez Opcionális: Pozicionáló volumen Z-n: 40 - 110 mm
Tápfeszültség ellátás 100 - 240 V
Mérési elv Konfokális 
Nagy teljesítményű LED (505 nm / fehér)
Nyelvek: Német , Angol , Francia , Olasz , Spanyol , Portugál , Lengyel , Orosz , Török , Kínai , Japán , Koreai

Termék sokoldalú alkalmazási területtel

Gépgyártás
Érdesség, geometria és kopási mennyiség minősítése és számszerűsítése

Elektronika és félvezetők
Alkatrészvizsgálat a mikrométer alatti tartományig a hibamentes termékekért

Orvostechnika
Orvostechnikai felületek minőségbiztosítása a termelésben és a laboratóriumban

Anyagtudomány
Új felületek és termékek funkcionális jellemzőinek optimalizálása
 
Mikrorendszer technológia
A legkisebb alkatrészek komplex felületgeometriáinak nanométer pontosságú mérése
Helyes, reprodukálható mérés
A mérési adatai megbízhatóan és megismételhetően kerülnek rögzítésre, azok maximális nyers adatminőséget és profilhűséget garantálnak.
Munkadarabok széles választéka
Tetszőleges geometriák és felületi minőség anyagtól független mérése, mindegy, hogy fényvisszaverő, fényelnyelő, opálos vagy áttetsző.
Intuitív kezelés
Egyszerű, felhasználó által vezérelt interfész automatikával minden lényeges mérési paraméterhez, valamint mérési receptúrák használata ismert felületekhez.
Felfelé