MarSurf | Mesure 3D des états de surface

MarSurf CM plus explorer 100

N° d'art. 6350027

La nouvelle série MarSurf CM explorer comprend des microscopes confocaux compacts permettant la mesure et l'analyse tridimensionnelle et précise de surfaces, sans contact, sans influence du matériau et rapidement.

MarSurf CM <i>plus explorer</i> 100<br/>
Solution de mesure flexible et polyvalente

Les appareils MarSurf CM performants permettent des mesures fiables sur toutes les surfaces – ils offrent aux utilisateurs une haute résolution, une robustesse une grande acceptation du flanc et une dynamique maximales.
Par ailleurs, les outils de pointe permettent des mesures ultrarapides (jusqu'à 4 fois plus rapides qu'auparavant) avec une grande densité des points de mesure, ce qui assure l'obtention de données brutes non filtrées de grande qualité.
En choisissant la variante CM explorer ou CM plus explorer pour les exigences les plus élevées, le système peut être adapté à votre application avec une répétabilité et une incertitude de mesure améliorées jusqu'à 2 fois.

Tâches de mesure caractéristiques
  • Mesure de rugosité selon
    ISO 21920 / 4287 et ISO 13565 / ISO 25178
  • Mesures de topographie (dont volume, usure, tribologie)
  • Contour et forme (2D, 3D)
  • Analyse de pores et de particules
  • Détection de défauts
  • ...
Qualité des données maximale

L'un de nos critères fondamentaux, synonyme d'excellente précision, de répétabilité, de reproductibilité et de documentation pour la traçabilité et la compliance pour audit. Notre plus grand service au client est une valeur de mesure quantitative sur laquelle les départements d'ingénierie, de conception produit et process, de contrôle qualité, etc., peuvent s'appuyer.
MarSurf CM plus explorer 100
| N° d'art. 6350027
Grossissement de l'objectif 5x - 100x
Poids de l'échantillon max. 10 kg
Alimentation en tension 100-240 V
Principe de mesure Méthode confocale brevetée
Hauteur échantillon 70 mm (plus sur demande)
Source lumineuse LED haute puissance (505 nm / blanc)
Surface de l'échantillon Réflectivité 0,1 - 100 % avec revêtement, sans revêtement, réfléchissante à diffuse
Bruit de mesure (module piézo) 1 nm
Bruit de mesure (Unité de déplacement) 5 nm
Revolver Variante manuelle / motorisée
Volume de positionnement x 100 mm
Volume de positionnement y 100 mm
Volume de positionnement z 70 mm
Complément du volume de positionnement x y z Augmentation du volume de positionnement en z sur demande
Langues : Allemand , Anglais , Français , Italien , Espagnol , Portugais , Polonais , Russe , Turc , Chinois , Japonais , Coréen

Les nombreux domaines d'application de notre produit

Construction mécanique
Qualification et quantification de la rugosité, de la géométrie et du volume d'usure

Électronique et semi-conducteurs
Inspection de composants dans la plage du submicromètre pour des produits sans défauts

Technique médicale
Assurance qualité de surfaces techniques médicales en production et en laboratoire

Sciences des matériaux
Optimisation des caractéristiques fonctionnelles des nouvelles surfaces et produits

Technique des microsystèmes
Géométries de surface complexes de composants de très petite taille, mesurées au nanomètre près
Mesures correctes et reproductibles
Vos données sont saisies de manière fiable et reproductible et assurent une qualité maximale des données brutes et de fidélité du profil.
Large gamme de pièces à usiner
Mesure indépendante du matériau de toute géométrie et caractéristiques de surface, qu'elles soient réfléchissantes, absorbantes, opaques ou transparentes.
Maniement intuitif
Interface utilisateur intuitive à opérations automatiques pour tous les paramètres de mesure principaux, et utilisation de recettes de mesure pour les surfaces connues.
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