MarSurf | Profilométrie 3D

MarSurf CP / CL select

N° d'art. 6350010

Profilométrie optique éprouvée pour l’assurance qualité

Profilomètres optiques permettant la mesure bidimensionnelle et tridimensionnelle de surfaces, sans contact, sans influence du matériau et rapidement.

MarSurf CP / CL <i>select</i>
MarSurf CP / CL <i>select</i>
Solution flexible pour le contrôle qualité

Le MarSurf CP select se distingue par une capture extrêmement rapide des faces de mesure étendues, avec une grande précision de mesure.  Le système de mesure peut être adapté à différentes tâches de mesure et aux exigences particulières du client en matière d'automatisation, de confort de mesure et de précision grâce à sa structure modulaire. 

Tâches de mesure caractéristiques
  • Mesures de rugosité selon ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Mesures de topographie (dont volume, usure, tribologie)
  • Mesure d'épaisseur de couche
  • Contour et forme (2D, 3D)
  • Macrogéométries et microgéométries
  • Définition de la planéité et de la coplanarité
  • ...
Qualité des données maximale

L'un de nos critères fondamentaux, synonyme d'excellente précision, de répétabilité, de reproductibilité et de documentation pour la traçabilité et la compliance pour audit. Notre plus grand service au client est une valeur de mesure quantitative sur laquelle les départements d'ingénierie, de conception produit et process, de contrôle qualité, etc., peuvent s'appuyer.
MarSurf CP / CL select | N° d'art. 6350010
Volume de positionnement x 100 mm
Volume de positionnement y 150 mm
Volume de positionnement z 150 mm
Complément du volume de positionnement x y z D'autres variantes sont disponibles
Alimentation en tension 100 - 240 V
Principe de mesure Confocal chromatique
Langues : Allemand , Anglais , Français , Italien , Espagnol , Portugais , Polonais , Russe , Turc , Chinois , Japonais , Coréen

Les nombreux domaines d'application de notre produit

Construction mécanique
Qualification et quantification de rugosité, géométrie et volume d'usure

Électronique et semi-conducteurs
Inspection de composants jusqu'à la plage du submicromètre pour des produits sans défaut

Technique médicale
Assurance de la qualité des surfaces techniques médicales en production et en laboratoire

Sciences des matériaux
Optimisation des caractéristiques fonctionnelles de surfaces et produits neufs

Technologies microsystèmes
Mesure au nanomètre de géométries de surfaces complexes de composants microscopiques
Mesures correctes et reproductibles
Vos données sont saisies de manière fiable et reproductible et assurent une qualité maximale des données brutes et de fidélité du profil.
Large gamme de mesures
Liberté absolue grâce à la structure en portique et à la flexibilité du choix des composants grâce à la conception modulaire.
Processus automatisés
Mesures en palettisation entièrement automatisées, sur base de données, avec cycle de mesure et d'analyse automatique (solution en 1 clic sans intervention de l'utilisateur).
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