MarSurf 3D | Mesure 3D surfacique

MarSurf 3D CM select

N° d'art. 6350006

MarSurf CM select est un microscope confocal performant configurable, permettant la mesure et l'analyse tridimensionnelle de surfaces, sans contact, sans influence du matériau et rapidement

MarSurf 3D CM <i>select</i>
MarSurf 3D CM <i>select</i>
Tâches de mesure caractéristiques
  • Mesure de rugosité selon
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Mesures de topographie (dont volume, usure, tribologie)
  • Contour et forme (2D, 3D)
  • Analyse de pores et de particules
  • Détection de défauts
  • ...
La solution de mesure adaptée à votre utilisation

MarSurf CM select, système multi-capteurs, permet de combiner différentes technologies de capteur dans un même appareil de mesure. Il est possible de choisir en plus le capteur optique ponctuel optimal pour la tâche de mesure. MarSurf CM select répond à vos besoins d'automatisation de taille d'échantillons, de confort de mesure et de précision, jusqu'aux solutions de mesure entièrement automatiques.
Qualité des données maximale

L'un de nos critères fondamentaux, synonyme d'excellente précision, de répétabilité, de reproductibilité et de documentation pour la traçabilité et la compliance pour audit. Notre plus grand service au client est une valeur de mesure quantitative sur laquelle les départements d'ingénierie, de conception produit et process, de contrôle qualité, etc., peuvent s'appuyer.
MarSurf 3D CM select | N° d'art. 6350006
Volume de positionnement x 300 mm
Volume de positionnement y 300 mm
Volume de positionnement z 100 mm
Complément du volume de positionnement x y z D'autres variantes sont disponibles
Alimentation en tension 100 - 240 V
Principe de mesure Confocal
LED haute puissance (505 nm / blanche)
Langues : Allemand , Anglais , Français , Italien , Espagnol , Portugais , Polonais , Russe , Turc , Chinois , Japonais , Coréen

Les nombreux domaines d'application de notre produit

Construction mécanique
Qualification et quantification de rugosité, géométrie et volume d'usure

Électronique et semi-conducteurs
Inspection de composants jusqu'à la plage du submicromètre pour des produits sans défaut

Technique médicale
Assurance de la qualité des surfaces techniques médicales en production et en laboratoire

Sciences des matériaux
Optimisation des caractéristiques fonctionnelles de surfaces et produits neufs

Technologies microsystèmes
Mesure au nanomètre de géométries de surfaces complexes de composants microscopiques
Mesures correctes et reproductibles
Vos données sont saisies de manière fiable et reproductible et assurent une qualité maximale des données brutes et de fidélité du profil.
Processus automatisés
La mesure rapide et haute résolution de grandes surfaces assure une rentabilité maximale sans perte de qualité.
Large gamme de mesures
Liberté absolue grâce à la structure en portique et à la flexibilité du choix des composants grâce à la conception modulaire.
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