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MarSurf CL select

Art.-Nr. 6350019

Ultraschnelle optische Profilometrie für QS und Produktion

Optische 3D-Profilometer mit dem Sie Oberflächen messen und analysieren können – berührungsfrei, materialunabhängig und ultraschnell.

MarSurf CL <i>select</i>
MarSurf CL <i>select</i>
Flexible Lösung für die Qualitätskontrolle und Produktion

Das MarSurf CL select zeichnet sich durch eine extrem schnelle Erfassung großer Messflächen bei gleichzeitig hoher Messpräzision aus.  Das Messsystem kann dank des modularen Aufbaus an verschiedene Messaufgaben und individuelle Anforderungen an Automatisierung, Messkomfort und Genauigkeit angepasst werden. 

Typische Messaufgaben
  • Topografiemessungen
    (u.a. Volumen, Verschleiß, Tribologie)
  • Defekt-Erkennung
  • Schichtdickenmessung
  • Kontur und Form (2D, 3D)
  • Makro- und Mikro- Geometrien
  • Bestimmung von Ebenheit und Koplanarität
  • ...
Höchstmaß an Datenqualität

Eines unserer wichtigsten Kriterien, das bedeutet exzellente Präzision, Genauigkeit, Wiederholgenauigkeit, Reproduzierbarkeit und Dokumentation für Rückführbarkeit und Auditierbarkeit. Unsere größte Leistung für den Kunden ist ein quantitativer Messwert, auf den er sich in den Bereichen Engineering, Produkt- und Prozessdesign, Qualitätskontrolle usw. verlassen kann.
MarSurf CL select | Art.-Nr. 6350019
Positioniervolumen x 300 mm
Positioniervolumen y 300 mm
Positioniervolumen z 100 mm
Ergänzung zu Positioniervolumen x y z Weitere Varianten verfügbar
Energieversorgung 100 - 240 V
Messprinzip Chromatisch-Konfokal
Sprachen: Deutsch , Englisch , Französisch , Italienisch , Spanisch , Portugiesisch , Polnisch , Russisch , Türkisch , Chinesisch , Japanisch , Koreanisch

Vielfältige Anwendungsgebiete unseres Produktes

Maschinenbau
Rauheit, Geometrie und Verschleißvolumen qualifizieren und quantifizieren

Elektronik und Halbleiter
Bauteilinspektion bis in den Submikrometerbereich für fehlerfreie Produkte

Medizintechnik
Qualitätssicherung von medizintechnischen Oberflächen in Produktion und Labor

Materialwissenschaft
Optimierung von Funktionseigenschaften neuer Oberflächen und Produkte

Mikrosystemtechnik
Komplexe Oberflächengeometrien von kleinsten Bauteilen nanometergenau vermessen
Kurze Messzeiten
Hochauflösende Messungen großer Flächen in kürzester Zeit garantieren maximale Wirtschaftlichkeit ohne Qualitätseinbußen.
Großer Messbereich
Absolute Freiheit durch Portalbauweise und flexible Komponentenauswahl aus einem Modulbaukasten.
Abläufe individuell programmieren
Vollautomatisierte, datenbankbasierte Palettenmessungen mit automatisiertem Mess- und Auswerteablauf (nutzerunabhängige 1-Klick-Lösung).
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