MarSurf3D | Síkszerű 3D mérések

MarSurf3D CM plus explorer 100

Cikkszám 6350027

Gyors és nagy pontosságú – az új MarSurf CM explorer sorozat

Az új MarSurf CM exlorersorozat részei az ultimatív konfokális mikroszkópok, amelyekkel a felületek mérése és elemzése háromdimenzióban és pontosan történik – érintésmentesen, anyagtól függetlenül és gyorsan.

MarSurf3D CM <i>plus explorer</i> 100<br/>
Rugalmas univerzális mérési megoldás

A nagy teljesítményű MarSurf CM készülékek megbízható mérést biztosítanak minden felületen – nagy felbontást, maximálisan robusztus kialakítást, élfelismerést és dinamikát kínálnak a felhasználóknak.
Ezenkívül a legkorszerűbb eszközök lehetővé teszik az ultragyors (a korábbinál akár 4-szer gyorsabb méréseket,) nagy méréspont-sűrűségű méréseket, ami kiváló minőségű és szűretlen nyers adatokat biztosít.
A legszigorúbb igényeket kielégítő CM explorer vagy CM plus explorerváltozat kiválasztásával a rendszer az Ön alkalmazáshoz akár 2x jobb ismételhetőséggel és mérési bizonytalansággal állítható be.

Tipikus mérési feladatok
  • Érdességmérés
    ISO 21920 / 4287 és ISO 13565 / ISO 25178 szerint
  • Topográfiamérések (pl. térfogatok, kopás, tribológia)
  • Kontúr és alak (2D, 3D)
  • Pórus-, részecskeelemzés
  • Hibakeresés
  • ...
Maximális adatminőség

Az egyik legfontosabb kritérium, ami maximális precizitást, pontosságot, ismétlési pontosságot, reprodukálhatóságot és a nyomon-követhetőséghez és auditálhatósághoz szükséges dokumentálást jelenti. Ügyfelünk részére nyújtandó legfontosabb szolgáltatásunk az a mérési érték, amelyben meg lehet bízni a műszaki tudományok, a termék- és folyamattervezés, a minőségellenőrzés és egyebek terén.
MarSurf3D CM plus explorer 100
| Cikksz. 6350027
Objektív nagyítása 5x - 100x
minta max. tömege 10 kg
Fényforrás Nagy teljesítményű LED (505 mm / fehér)
A minta magassága 70 mm (igény szerint)
Mintafelület Fényvisszaverő képesség. 0,1–100% bevonatos, bevonat nélküli, tükröződő felülettől a diffúzig
Mérési zaj (Piezo modul) 1 nm
Mérési zaj (állító egység) 5 nm
X pozicionáló volumen 100 mm
Pozicionálási tartomány Y 100 mm
Z pozicionáló volumen 70 mm
Nyelvek: Német , Angol , Francia , Olasz , Spanyol , Portugál , Lengyel , Orosz , Török , Kínai , Japán , Koreai
Kiegészítés X, Y, Z pozicionáló volumenhez Z pozicionáló volumen növelése igény szerint

Termék sokoldalú alkalmazási területtel

Gépgyártás
Érdesség, geometria és kopási mennyiség minősítése és számszerűsítése

Elektronika és félvezetők
Alkatrészvizsgálat a mikrométer alatti tartományig a hibamentes termékekért

Orvosi technika
Orvostechnikai felületek minőségbiztosítása a termelésben és a laboratóriumban

Anyagtudomány
Új felületek és termékek funkcionális jellemzőinek optimalizálása

Mikrorendszer technológia
A legkisebb alkatrészek komplex felületgeometriáinak nanométer pontosságú mérése
Helyes, reprodukálható mérés
A mérési adatai megbízhatóan és megismételhetően kerülnek rögzítésre, azok maximális nyers adatminőséget és profilhűséget garantálnak.
Munkadarabok széles választéka
Tetszőleges geometriák és felületi minőség anyagtól független mérése, mindegy, hogy fényvisszaverő, fényelnyelő, opálos vagy áttetsző.
Intuitív kezelés
Egyszerű, felhasználó által vezérelt kezelői felület, automatikával, minden lényeges mérési paraméterhez, valamint mérési receptúrák használata ismert felületekhez.
Felfelé