Mahr | Product news

MarSurf WI Series: Precise measurement in the lower nanometer range

| Marketing Team
Produkte der MarSurf WI-Serie: MarSurf WI 50M, MarSurf WI 50 und MarSurf WI 100

Presenting the new, highly innovative product series from the metrology professional Mahr: Three powerful white light interferometers now expand the portfolio of optical devices. They enable 3D measurements of structures whose size ranges from a few nanometers to a few micrometers.

Orvostechnika, optika vagy félvezetőipar: Számos szakterületen extrém sima felületekre van szükség, hogy a lencséknek, chipeknek és implantátumoknak megfelelő tulajdonságaik legyenek. Ezért azok gyártása költséges, és azokat a laboratóriumokban és a gyártó minőségbiztosítási folyamataiban aprólékos vizsgálatoknak vetik alá. Mivel ezen felületek érdessége a szubnanométeres tartománytól függ, a fehér fény interferometria mérési módszer a legjobb választás.

A Mahr három új fehér fényű interferométere egyedülálló ICA („Intelligent Correlation Algorithm”) technológiával rendelkezik. Az ICA technológia lehetővé teszi a magasságérték nagyon jó meghatározását, a legjobb adatminőség elérését és a csak 80 pm minimális jelszint mérését. A mérési adatokat néhány másodperc alatt szállítja. Ez a következőket jelenti a felhasználó számára: Nagy pontosságú topográfiai adatok és felületstruktúrák nagyon nagy függőleges felbontásnál.

A Mahr új fehér fényű interferométer sorozata három készüléket foglal magában:

  • A manuális MarSurf WI 50 M, a mindentudó bevezető megoldás igényes mérési feladatokhoz
  • A MarSurf WI 50 nagypontosságú mérőeszköz kutatáshoz és minőségirányításhoz
  • Az automatizálható MarSurf WI 100 bővített Z tengellyel rendelkező profi készülék a különösen nagy munkadarabokhoz

A pontosság mellett a három készülék a nagy munkadarabokhoz szükséges nagyon nagy pozicionáló volumennel és intuitív felhasználói szoftverrel tűnik ki, amit a Mahr ügyfelei más optikai rendszerekből már ismernek és értékelnek. Ennek segítségével a laboratóriumok és minőségbiztosítások a nanométeres tartományban meg tudják mérni a legkisebb érdességet, fokmagasságot vagy szintet, ráadásul néhány másodperc alatt.

Ismerje meg az ICA-t!

Új fehér fényű interferométereink innovatív ICA technológiája ötvözi a PSI és VSI módszerek előnyeit. Az eredmény: Nagy pontosságú topográfiai adatok nagyon nagy függőleges felbontásnál.

Most tudjon meg többet!

Info
Felfelé