MarSurf | 3D-Profilometrie

MarSurf CP / CL select

Art.-Nr. 6350010

Etablierte optische Profilometrie für QS

Optische Profilometer mit dem Sie Oberflächen zwei- und dreidimensional messen und analysieren können – berührungsfrei, materialunabhängig und schnell.

Flexible Lösung für die Qualitätskontrolle

Das MarSurf CP select zeichnet sich durch eine äußerst schnelle Erfassung großer Messflächen bei gleichzeitig hoher Messpräzision aus. Das Messsystem kann dank des modularen Aufbaus an verschiedene Messaufgaben und individuelle Anforderungen an Automatisierung, Messkomfort und Genauigkeit angepasst werden.

Typische Messaufgaben

Rauheitsmessungen nach ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
Topografiemessungen (u.a. Volumen, Verschleiß, Tribologie)
Schichtdickenmessung
Kontur und Form (2D, 3D)
Makro- und Mikro- Geometrien
Bestimmung von Ebenheit und Koplanarität
...

Höchstmaß an Datenqualität

Eines unserer wichtigsten Kriterien, das bedeutet exzellente Präzision, Genauigkeit, Wiederholgenauigkeit, Reproduzierbarkeit und Dokumentation für Rückführbarkeit und Auditierbarkeit. Unsere größte Leistung für den Kunden ist ein quantitativer Messwert, auf den er sich in den Bereichen Engineering, Produkt- und Prozessdesign, Qualitätskontrolle usw. verlassen kann.

MarSurf CP / CL select \| Art.-Nr. 6350010
Messgeschwindigkeit	4 kHz
Werkstückgewicht (max.) in kg	10 kg
Messprinzip	Chromatisch-Konfokal
Sprachen:	Deutsch , Englisch , Französisch , Italienisch , Spanisch , Portugiesisch , Polnisch , Russisch , Türkisch , Chinesisch , Japanisch , Koreanisch
Spannungsversorgung	100 - 240 V
Kennwerte	ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …

Vielfältige Anwendungsgebiete unseres Produktes

Maschinenbau
Rauheit, Geometrie und Verschleißvolumen qualifizieren und quantifizieren

Elektronik und Halbleiter
Bauteilinspektion bis in den Submikrometerbereich für fehlerfreie Produkte

Medizintechnik
Qualitätssicherung von medizintechnischen Oberflächen in Produktion und Labor

Materialwissenschaft
Optimierung von Funktionseigenschaften neuer Oberflächen und Produkte

Mikrosystemtechnik
Komplexe Oberflächengeometrien von kleinsten Bauteilen nanometergenau vermessen

Richtig, reproduzierbar Messen
Ihre Messdaten werden zuverlässig und wiederholbar erfasst und gewährleisten höchste Rohdatenqualität und Profiltreue.

Großer Messbereich
Absolute Freiheit durch Portalbauweise und flexible Komponentenauswahl aus einem Modulbaukasten.

Automatisierte Abläufe
Vollautomatisierte, datenbankbasierte Palettenmessungen mit automatisiertem Mess- und Auswerteablauf (nutzerunabhängige 1-Klick-Lösung).