MarSurf3D | Flächenhafte 3D-Messung

MarSurf3D CM plus explorer 100

Art.-Nr. 6350027

Die neue MarSurf CM explorer-Serie sind die ultimativen Konfokalmikroskope, mit denen Sie Oberflächen dreidimensional präzise messen und analysieren können – berührungsfrei, materialunabhängig und schnell.

MarSurf3D CM <i>plus explorer</i> 100<br/>
Flexible Allround-Messlösung

Die leistungsstarken MarSurf CM-Geräte stehen für eine zuverlässige Messung auf allen Oberflächen – Anwendern bieten sie eine hohe Auflösung bei maximaler Robustheit, Flankenakzeptanz und Dynamik.
Darüber hinaus erlauben die State-of-the-Art-Tools ultraschnelle Messungen (bis zu 4x schneller als vorher) mit großer Messpunktdichte, die für hochqualitative und ungefilterte Rohdaten sorgen.
Durch die Auswahl der Variante CM explorer oder CM plus explorer für höchste Ansprüche kann das System an Ihre Applikation angepasst werden mit bis zu 2x besserer Wiederholgenauigkeit und Messunsicherheit.

Typische Messaufgaben
  • Rauheitsmessungen nach
    ISO 21920 / 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Topografiemessungen (u.a. Volumen, Verschleiß, Tribologie)
  • Kontur und Form (2D, 3D)
  • Poren-, Partikelanaylse
  • Defekt-Detektion
  • ...
Höchstmaß an Datenqualität

Eines unserer wichtigsten Kriterien, das bedeutet exzellente Präzision, Genauigkeit, Wiederholgenauigkeit, Reproduzierbarkeit und Dokumentation für Rückführbarkeit und Auditierbarkeit. Unsere größte Leistung für den Kunden ist ein quantitativer Messwert, auf den er sich in den Bereichen Engineering, Produkt- und Prozessdesign, Qualitätskontrolle usw. verlassen kann.
MarSurf3D CM plus explorer 100
| Art.-Nr. 6350027
Objektivvergrößerung 5x - 100x
max. Probengewicht 10 kg
Lichtquelle Hochleistungs-LED (505 nm / weiß)
Probenhöhe 70 mm (mehr auf Anfrage)
Probenoberfläche Reflektivität 0,1 - 100% beschichtet, unbeschichtet, spiegelnd bis diffus
Messrauschen (Piezomodul) 1 nm
Messrauschen (Verstelleinheit) 5 nm
Positioniervolumen x 100 mm
Positioniervolumen y 100 mm
Positioniervolumen z 70 mm
Sprachen: Deutsch , Englisch , Französisch , Italienisch , Spanisch , Portugiesisch , Polnisch , Russisch , Türkisch , Chinesisch , Japanisch , Koreanisch
Ergänzung zu Positioniervolumen x y z Erhöhung z-Positioniervolumen auf Anfrage

Vielfältige Anwendungsgebiete unseres Produktes

Maschinenbau
Rauheit, Geometrie und Verschleißvolumen qualifizieren und quantifizieren

Elektronik und Halbleiter
Bauteilinspektion bis in den Submikrometerbereich für fehlerfreie Produkte

Medizintechnik
Qualitätssicherung von medizintechnischen Oberflächen in Produktion und Labor

Materialwissenschaft
Optimierung von Funktionseigenschaften neuer Oberflächen und Produkte

Mikrosystemtechnik
Komplexe Oberflächengeometrien von kleinsten Bauteilen nanometergenau vermessen
Richtig, reproduzierbar Messen
Ihre Messdaten werden zuverlässig und wiederholbar erfasst und gewährleisten höchste Rohdatenqualität und Profiltreue.
Breites Werkstückspektrum
Materialunabhängige Messung beliebiger Geometrien und Oberflächenbeschaffenheiten egal ob spiegelnd, absorbierend, opak oder transparent.
Intuitive Handhabung
Einfache benutzergeführte Oberfläche mit Automatiken für alle wesentlichen Messparameter, sowie Nutzung von Messrezepten für bekannte Oberflächen.
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